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混合颗粒中超细粉光信息的抽取
【机构】 重庆大学光电精密仪器系；
【摘要】 <正>1前言粉体材料的生产制备中常需要测定加工状态下颗粒的分布,以控制或指导生产过程。由于加工粉体的原料中含有杂质、加工时这些杂质同时被粉碎。如果杂质的硬度和加工粉体的硬度不同,杂质或一部分材料有可能被加工成超更细的颗粒而混合在真正需要的产品中。对于这种未经分选的颗粒我们称为混合粒。如果生产过程中用基于弗朗和费原理的粒度仪进行抽样检查,由于微米级以下粒子散射的结果,会给测量结果代来较大误差,
- 【会议录名称】 第四届全国颗粒测试学术会议暨第三届全国超微颗粒学术讨论会论文集
- 【会议名称】第四届全国颗粒测试学术会议暨第三届全国超微颗粒学术讨论会
- 【会议时间】1995-04
- 【会议地点】中国广东珠海
- 【分类号】TB383.3
- 【主办单位】中国颗粒学会颗粒测试专业委员会