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用于高精度时间测量的SCA波形数字化芯片测试
Testing of SCA-Waveform-Digitizer for High-Precision Time Measurement
【作者】 陈晗; 赵雷; 成博宇; 郭宇翔; 李嘉铭; 宋春晓; 秦家军; 刘树彬; 安琪;
【Author】 Han Chen;Lei Zhao;Boyu Cheng;Yuxiang Guo;Jiaming Li;Chunxiao Song;Jiajun Qin;Shubin Liu;Qi An;State Key Laboratory of Particle Detection and Electronics,USTC;
【机构】 核探测与核电子学国家重点实验室中国科学技术大学;
【摘要】 高精度时间测量在核与粒子物理实验中有着重要的意义,SCA芯片可以通过高速模拟采样以获得包含丰富物理信息的原始波形,因此在高精度时间测量中有良好的表现。核探测与核电子学国家重点实验室(中国科学技术大学)设计了一款SCA波形数字化芯片,该芯片可用于高精度时间测量,本文围绕该芯片在时间测量精度的测试。
【Abstract】 High-precision time measurement is of great significance in nuclear and particle physics experiments. SCA chips can catch original waveforms with lots of physical information with highspeed analog sampling, which perform well in high-precision time measurement. The State Key Laboratory of Nuclear Detection and Electronics, USTC, designed an SCA-waveform-digitizer which can be used for high-precision time measurement. This paper tests the time measurement accuracy of this chip.
- 【会议录名称】 第十九届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集
- 【会议名称】第十九届全国核电子学与核探测技术学术年会
- 【会议时间】2018-10-15
- 【会议地点】中国湖南衡阳
- 【分类号】TL824
- 【主办单位】中国核学会核电子学与核探测技术分会