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130nm Flash型FPGA单粒子瞬态效应研究
The SET Characterization of 130 nm Flash-based FPGA Device
【作者】 郭晓强; 曹良志; 陈伟; 张凤祁; 王勋; 丁李利; 罗尹虹; 赵雯; 郭刚;
【Author】 GUO Xiao-qiang;CAO Liang-zhi;CHEN Wei;ZHANG Feng-qi;WANG Xun;DING Li-li;LUO Yin-hong;ZHAO Wen;GUO Gang;School of Nuclear Science and Technology,Xi’an Jiao-tong University;State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect(Northwest Institute of Nuclear Technology);China institute of atomic energy;
【机构】 西安交通大学核科学与技术学院; 西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室; 中国原子能科学研究院;
【摘要】 Flash型FPGA具有非易失性配置存储特点,在空间系统中得到广泛应用。本文选取了特征尺寸为130 nm的Flash型FPGA作为研究对象,开展了重离子辐照条件下的组合逻辑电路单粒子瞬态脉冲测试研究,分析得到了典型逻辑单元产生单粒子瞬态脉冲的敏感性规律及其在电路中的传播捕获特征。
【Abstract】 Low Power Flash-based Field Programmable Gate Arrays(FPGA) are gaining interest in the space electronic systems due to their re-programmability feature while being non-volatile.New insights on SET characterization in 130 nm Flash-Based FPGAs are investigated.Based on a dedicated SET effect test system,the heavy-ion induced SET plus width and generate rate characterization of combinational circuits at different sample frequency are presented.
【Key words】 Flash-based FPGA; combinational circuits; single event transients;
- 【会议录名称】 中国核科学技术进展报告(第六卷)——中国核学会2019年学术年会论文集第7册(计算物理分卷、核物理分卷、粒子加速器分卷、核聚变与等离子体物理分卷、脉冲功率技术及其应用分卷、辐射物理分卷、核工程力学分卷、核测试与分析分卷)
- 【会议名称】中国核学会2019年学术年会
- 【会议时间】2019-08-20
- 【会议地点】中国内蒙古包头
- 【分类号】TN78;TN791
- 【主办单位】中国核学会