介质填充平行平板传输线中微放电效应粒子模拟研究

【作者】 王洪广； 李永东； 翟永贵； 王瑞；

【机构】 西安交通大学； 中国空间技术研究院西安分院空间微波技术重点实验室；

【摘要】 由于介质的导电性差,电子与介质材料表面发生碰撞产生二次电子,同时在介质表面累积电荷,介质填充微波器件中发生的微放电过程与金属器件不同。本文主要通过粒子模拟软件研究分析了介质填充平行平板微波器件的微放电物理过程,结果表明,宏粒子权重太大,介质表面积累电荷的极性将会发生改变,为了保证模拟有效性,一般选择宏粒子权重约为1e7;改变微波器件端口信号的输入功率,研究不同功率下微放电的影响,结果表明,随着功率的增加,微放电的饱和形成时间越小;在较低功率下发生微放电自熄灭现象,二次电子经历倍增、饱和与减少过程;在较高功率下,二次电子由倍增达到饱和,最终保持稳定。更多还原