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基于损耗介质加载波导回旋行波放大器的多模稳态分析
【机构】 中国科学院电子学研究所高功率微波源与技术重点实验室； 中国科学院大学； 中国电子科学研究院；
【摘要】 目前回旋放大器的稳定性分析主要采用单模理论,而该理论不能分析模式间的相互影响。多模稳态理论可以分析不同模式间的相互影响,现有的多模理论仅可以分析光滑波导或内壁加载石墨涂层的波导结构,该结构并不适合高平均功率工作。该文首次将回旋行波放大器的多模稳态理论应用于适合于高平均功率的损耗介质加载波导模型,并分析了回旋返波振荡的存在对工作模式的影响。以01TE模基波工作的Ka波段回旋行波管为例,研究介质损耗正切和输入功率的变化对回旋返波振荡的抑制作用。相较于使用PIC仿真方法,利用多模理论,可以快速地分析工作模式得到稳定放大的过程。
- 【会议录名称】 2016真空电子学分会第二十届学术年会论文集（上）
- 【会议名称】2016真空电子学分会第二十届学术年会
- 【会议时间】2016-08-23
- 【会议地点】中国福建厦门
- 【分类号】TN124;TN722
- 【主办单位】中国电子学会真空电子学分会、微波电真空器件国家级重点实验室