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Gd掺杂PZT铁电薄膜的溶胶-凝胶制备及微观结构和铁电性研究

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【作者】 孙秋王福平姜兆华

【机构】 哈尔滨工业大学应用化学系

【摘要】 采用溶胶-凝胶技术制备稀土Gd掺杂的PZT(PGZT)前驱体溶胶;采用气相色谱与质谱联用(GC-MS)和傅里叶变换红外光谱(FT-IR)技术对PGZT溶胶形成过程中的各步反应进行分析,根据各步反应体系中以及馏分中的物质,推测出PGZT溶胶的形成机制。以(111)Pt/Ti/Si O2/Si(001)为衬底,采用旋涂法制备PGZT薄膜,X射线衍射(XRD)分析解果表明,450℃预烧,650℃快速热处理得到的薄膜为(100)择优取向。用扫描电镜(SEM)对稀土Gd不同掺入量的薄膜的表面和断面形貌进行分析,用原子力显微镜(AFM)对薄膜的粗糙度进行分析。薄膜的表面平整,无裂纹;各层间界面清晰,无明显扩散。PGZT薄膜铁电性能测试结果表明,1mol%Gd-PZT薄膜的剩余极化强度(2Pr)为58.642μC/cm2,矫顽场强度为100k V/cm,经1010次极化循环后,剩余极化值仅减小20%。当Gd掺入量大于1mol%时,薄膜的剩余极化强度减小,矫顽场增大。对稀土Gd3+掺杂改性机理进行分析,可能是由于稀土掺入量小于1mol%时,稀土起施主掺杂剂作用,而施主掺杂可以明显改善PZT的疲劳特性;当稀土掺入量大于1mol%时,稀土起受主掺杂剂作用。

  • 【会议录名称】 第十三届全国高技术陶瓷学术年会摘要集
  • 【会议名称】第十三届全国高技术陶瓷学术年会
  • 【会议时间】2004-10-14
  • 【会议地点】中国辽宁大连
  • 【分类号】O484
  • 【主办单位】中国硅酸盐学会特种陶瓷分会
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