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三层板波导结构中缺陷的拓扑成像研究
Topological imaging of defects in three-layer waveguide structure
【Author】 ZHANG Chao;YAN Shou-guo;ZHANG Bi-xing;State Key Laboratory of Acoustics, Institute of Acoustics, Chinese Academy of Sciences;
【机构】 中国科学院声学研究所声场声信息国家重点实验室；
【摘要】 <正>0引言1近些年,分层板结构在航空航天和风力发电等领域得到广泛的应用,而此类结构的无损检测也成为备受关注的课题[1-3]。常规的超声检测方法需要对待测结构逐点扫描,这严重制约生产和检测效率。导波具有敏感度高、传播距离远等特性,适合进行大面积和中长距离的检测。然而,导波具有频散和多模等特性,给实际检测中对缺陷的定位和定量都带来了很大难度。本文中,拓扑梯度[4]的概念将被
【基金】 国家自然科学基金(11474308,11574343)
- 【会议录名称】 中国声学学会2017年全国声学学术会议论文集
- 【会议名称】中国声学学会2017年全国声学学术会议
- 【会议时间】2017-09-22
- 【会议地点】中国黑龙江哈尔滨
- 【分类号】TN814
- 【主办单位】中国声学学会