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高低位置过渡法刻度探测器表面位置效率
【作者】 章剑华； 向永春； 胡广春； 伍怀龙； 王红侠； 侯建平； 胡根； 储诚胜； 曾军； 迮仁德； 丁阁； 张昌繁；
【机构】 中国工程物理研究院核物理与化学研究所；
【摘要】 由于级联符合相加效应的影响,当刻度用的标准源核素种类与待测核素不同时,无法直接得到HPGe探测器表面位置处感兴趣γ射线的效率。采用反应堆辐照U3O8样品生产88Kr,并制备成活性炭钢盒源。利用标准源刻度探测器较高位置处效率曲线,通过高低位置过渡的方法,得到探测器表面位置的效率。
- 【会议录名称】 第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集
- 【会议名称】第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会
- 【会议时间】2014-08-13
- 【会议地点】中国甘肃兰州
- 【分类号】TL81
- 【主办单位】中国电子学会、中国核学会核电子学与核探测技术分会