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MALD-TOF质谱在内嵌金属富勒烯研究中的应用

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【作者】 施祖进贺晓然孙宝云廉永福顾镇南

【机构】 北京大学分析测试中心

【摘要】 <正>内嵌金属富勒烯(Endohedral Metallofullerene,EMF)由于其独特的几何电子结构和预期的重要性质,已成为富勒烯研究的重要领域之一。然而,EMF的合成产率低,分离困难,一直是进一步研究的障碍。MALDI-TOF质谱分析速度快、纯度高,可以提供正负离子质谱,为正确判断样品中含量提供重要依据,因此,它是EMF分析的重要手段,在EMF的研究中发挥了重要作用。

  • 【会议录名称】 中国分析测试协会科学技术奖发展回顾
  • 【会议时间】2015-07
  • 【分类号】O613.71;O657.63
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