表面分析新方法——变角XPS(VAXPS)、表面扩展电子能量损失精细结构谱(SEELFS)和同步辐射(SR)等在单层和自组装纳米薄膜等表面过程和结构分析中的应用

【作者】 吴念祖； 黄惠忠； 黄小华； 于小峰； 徐维明；

【机构】 北京大学分析测试中心；

【摘要】 <正>1.表面分析新方法在自组装纳米薄膜和新型催化剂等体系的组成、化学键合、空间构型和原子键长的测试等方面的应用在基础研究中,获奖者首次成功地应用XPS测定了有机物在活性炭载体上自发单层分散效应,拓展和丰富了有关单层分散机制的研究。变角XPS(VAXPS)有时称角分解XPS(ARXPS),有时也称角扫描XPS(ASXPS)。传统XPS测试的更多还原