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X射线粉末衍射全谱拟合技术及其应用
【作者】 马礼敦; 吴宏翔; 倪玉华; 施国顺; 康立涛; 沈孝良; 朱江海;
【机构】 复旦大学分析测试中心;
【摘要】 <正>全谱拟合是X射线粉末衍射数据处理中的一种新技术。它是在利用中子衍射数据做结构精修时提出的,20世纪80年代后期到90年代初在X射线衍射领域得到了较快的发展。获奖者自90年代中期开始对此技术及应用进行研究,得到了国家自然科学基金(29573098)的资助。首先掌握了理论,然后建立了获得高准确率、高分辨率粉末衍射谱的实验技术及相应的数据分析程序包,并开展了以下四个方面的应用研究。
- 【会议录名称】 中国分析测试协会科学技术奖发展回顾
- 【会议时间】2015-07
- 【分类号】O657