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俄歇化学位移及在固体表面化学中的应用
【机构】 清华大学分析中心；
【摘要】 <正>俄歇电子能谱(AES)是目前最常用的一种表面分析技术,其表面探测深度约为20A。在元素定性分析时,可以一次测定除氢氦以外的所有元素,并且有对样品进行微区分析和深度分析的功能,还可以进行元素价态的测定。俄歇电子能谱在表面科学的研究上具有重要的应用。该研究讨论了俄歇化学位移测定元素价态的基本原理和方法、俄歇化学位移的理论计算、常用元素的俄歇化学位移的测定以及俄歇化
- 【会议录名称】 中国分析测试协会科学技术奖发展回顾
- 【会议时间】2015-07
- 【分类号】O647;O657.62