离子阱质谱低质量截止值的改进方法

【作者】 徐福兴； 丁力； 戴新华； 方向； 丁传凡；

【机构】 复旦大学化学系激光化学研究所； 中国计量科学研究院；

【摘要】 离子阱质谱除了具有其他质谱仪所共有的高灵敏度,高质量分辨能力外,离子存储和串级质谱分析是离子阱质谱的独特优点之一。但离子阱质谱作串级质谱分析时,也存在一个明显的缺陷,即,在分析串级质谱结果时,低于母体离子三分之一质荷比的碎片离子测量不到,也就是平常所谓的低质量截止值(Low Mass Cutoff,LMCO)。近年来,如何改进低质量截止己成为离子阱质谱研宄中的主要内容之一。本工作在实验室自制的线形数码离子阱质量分析器上,通过改变数码电源的频率扫描方式,成功克服了离子阱质谱作串级质谱分析时所遇到的三分之一低质量截止特性,实现了对串级质谱分析的低质量碎片离子的分析。实验中采用数字方波驱动离子阱技术,通过扫描频率方式实现碰撞诱导解离和质量分析。在实验过程中离子束缚、激发和离子门控电压均又时序控制。在C1D阶段,通过改变扫描偶极激发频率,实现从低频往高频线性扫描。实验中先对利血平母体离子峰m/z=609Da隔离,结果如图1(a)所示。被隔离后的母离子峰通过常规的改变数字激发方波频率方法的方式实现碰撞诱导解离。在碰撞诱导解离阶段中选用P值为0.3478,束缚频率为556kHz,方波电压值为200V—,激发方波电压值为1.5V0.P,解离时间为40ms,得到的利血平解离碎片谱图如图1(b)所示,其与前人研宄报道的矩形离子阱碰撞诱导解离谱图一致。然后,我们再将数字束缚方波频率从500kHz扫描到560kHz,扫描速度为2380Th/s。得到的解离碎片谱图如图1(c)所示,得到低质量数m/z 236、m/z 224、m/z 195、m/z 174碎片离子峰,比离子阱传统解离方法得到的碎片峰多了低质量数离子峰,丰富了碎片离子信息,与三重四极解离得到的碎片峰一致。实现了在离子阱质量分析器中得到低质量数的碎片离子峰信息,进一步有助于对母离子峰的性能分析。更多还原