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宽度与取向变化的干涉条纹计数技术研究
【机构】 西安交通大学；
【摘要】 <正> 干涉计量以它的高精度在生产实践中越来越被人们所重视。而所遇到的问题之一是干涉条纹(或莫尔条纹)的宽度和取向不一致,即有随机变化。例如平板玻璃厚度检测的干涉条纹就是如此。这使传统的电子学频率
- 【会议录名称】 第四届全国光电技术与系统学术会议论文集
- 【会议名称】第四届全国光电技术与系统学术会议
- 【会议时间】1991-05-13
- 【会议地点】中国安徽合肥
- 【分类号】TP274;O436.1
- 【主办单位】中国科技大学、安徽省光学学会