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用慢正电子束方法研究纳米晶钨膜中氦氢相关缺陷的演变

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【作者】 谢莎邓爱红王康王勇王玲

【机构】 四川大学物理科学与技术学院物理系四川大学原子核科学与技术研究所,辐射物理及技术教育部重点实验室

【摘要】 <正>钨金属由于自身的物理特性,如高熔点,低溅射率和良好的热机械行为,而被选为国际热核实验堆中的第一壁材料。第一壁材料会面临强烈等离子体的辐照,从而影响其使用寿命,因此了解钨中氦氢相关缺陷的演化行为是一个重要的课题。本文利用直流磁控溅射的方法在硅基底上沉积钨膜,用扫描电镜检测钨膜厚度约500nm。实验过程:首先对样品注入30keV的He,再注入40keV的H。具体实

  • 【会议录名称】 第十二届全国正电子谱学会议论文集
  • 【会议名称】第十二届全国正电子谱学会议
  • 【会议时间】2014-07-09
  • 【会议地点】中国山东烟台
  • 【分类号】O572.322;O484
  • 【主办单位】中国核物理学会正电子谱学专业委员会、北京航空航天大学物理科学与核能工程学院、烟台大学光电信息技术学院、中国科学院核辐射与核能技术重点实验室
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