节点文献

原子层淀积技术及其在微电子薄膜中的应用

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 张卫

【机构】 复旦大学微电子学系

【摘要】 <正> 原子层淀积(atomic layer deposition,简称ALD)是一种气相生长纳米薄膜的方法,它的原理是基于饱和的表面反应。与其他化学气相淀积薄膜方法截然不同的是,ALD工艺中反应源是脉冲交替通入反应腔的,一次只通入一种反应源,二次反应源脉冲之间被惰性气体清洗或者抽真空隔开。每个反应源通入时在衬底表面形成一个饱和的单原子层,这将产生自限制的薄膜生长机理。可以看出,原子层淀积是化学气相淀积(CVD)的一种特殊改进,它的最大特点是自限制薄膜生长机理。这使得ALD技术有很多吸引人的特点,如薄膜厚度控制简便而精确,界面分明,大面积均匀性好,优异的保形性,良好的重复性,多层工艺能力,以及低温下制备高质量的薄膜等。

  • 【会议录名称】 TFC’05全国薄膜技术学术研讨会论文摘要集
  • 【会议名称】TFC’05全国薄膜技术学术研讨会
  • 【会议时间】2005-09
  • 【会议地点】中国大连
  • 【分类号】TB383
  • 【主办单位】中国真空学会薄膜专业委员会、大连理工大学三束材料改性国家重点实验室
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络