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磁力显微镜磁畴成像中形貌影响的实验观察和模拟
【机构】 电子科技大学材料分析中心；
【摘要】 <正> 磁力显微镜(MFM)自问世起,便成为研究磁性体磁畴结构的有力工具。研究表明磁力显微镜的横向分辨率制约于磁性针尖半径、针尖抬举高度以及样品表面平整度。为了减少样品表面起伏对磁畴结构成像的影响,通常采用抬举模式,以获取明暗对比的磁畴像。本工作在软磁薄膜的MFM分析中,观察到形貌像中凸起部分也可以在磁畴像
【基金】 国家重大基础研究规划(973)项目资助
- 【会议录名称】 2003年纳米和表面科学与技术全国会议论文摘要集
- 【会议名称】2003年纳米和表面科学与技术全国会议
- 【会议时间】2003-03
- 【会议地点】中国北京
- 【分类号】TH742
- 【主办单位】中国真空学会纳米与表面科学专委会、中科院物理所纳米物理与器件实验室