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Ag-Cu-Ni焊料在真空开关管中的应用研究
Study of Ag-Cu-Ni Brazing Material Applied for Vacuum Interrupter
【Author】 WANG Wei-jie, HE Xiao-mei (Beijing Vacuum Electronics Research Institute, Beijing 100016, China)
【机构】 北京真空电子技术研究所；
【摘要】 对应用在真空电子管中的Ag Cu Ni焊料进行X射线荧光分析、封接性能测试以及显微结构观察,从理化分析的角度来说明该使用焊料的可行性。
【Abstract】 Ag-Cu-Ni brazing material was analyzed by physical-chemical methods, such as XRFS, sealing performance inspection and microstructure examination. It is indicated that Ag-Cu-Ni brazing material to be applied for vacuum interrupter is feasible.
【关键词】 AgCuNi焊料；
封接性能；
显微结构；
理化分析；
可行性；
【Key words】 Ag-Cu-Ni brazing material； Sealing performance； Microstructure； Physical-chemical analysis； Feasibility；
【Key words】 Ag-Cu-Ni brazing material； Sealing performance； Microstructure； Physical-chemical analysis； Feasibility；
- 【会议录名称】 陶瓷—金属封接技术进步和应用研讨会论文集
- 【会议名称】陶瓷—金属封接技术进步和应用研讨会
- 【会议时间】2004
- 【分类号】TG42
- 【主办单位】中国真空电子行业协会