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超高速器件的采样技术

The Sampling Technology of Ultra-high-speed Devices

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【作者】 匡登峰刘庆纲胡小唐

【Author】 Kuang Dengfeng Liu Qinggang Hu Xiaotang(State key Lab of Precision Measuring Technology & Instrument, Tianjin University, Tianjin 300072, China)

【机构】 天津大学精密仪器与光电子工程学院

【摘要】 详细论述了电光采样和光导采样两种超快速采样技术的原理和实现方法,分析了两种超快速采样技术的发展方向,对比了两种超快速采样技术的优缺点,提出了利用微加工和纳米加工不断改善两种超快速采样技术的方法。

【Abstract】 The principles and application methods of electro-optic sampling and photoconductive sampling are described in detail. The developing directions of the two ultra-high-speed sampling technologies are analyzed. The advantages and disadvantages of the two sampling technologies are compared. The methods of improving the two sampling technologies are presented with micro/nano fabrication technologies.

【基金】 天津市自然科学基金(013602111);教育部天津大学南开大学共建项目
  • 【会议录名称】 第三次全国会员代表大会暨学术会议论文集
  • 【会议名称】第三次全国会员代表大会暨学术会议
  • 【会议时间】2002
  • 【分类号】TN307
  • 【主办单位】中国仪器仪表学会
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