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IC工程测试和生产测试

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【作者】 时万春吉国凡陈大为刘鸿琴刘学森孙加兴

【机构】 中国科学院计算技术研究所北京华大泰思特半导体检测技术有限公司中国电子技术标准化研究所江南计算技术研究所上海华碧检测技术有限公司苏洲分公司信息产业部软件与集成电路促进中心

【摘要】 IC工程测试和生产测试直接涉及IC设计、生产产品的性能、指标、应用和价格,并最后直接面对市场和效益的考验和取向。专题发言对IC产业化测试进行了较为完整和系统的阐述,特别介绍和分析了IC产业化测试和验证的几个重要流程。IC工程测试中,ATE测试接口方法/技术和测试结果数据的处理是产品性能、指标和应用的关键要素,并在很大程度上影响产品生产和市场竞争力。专题讨论中,专家就ATE测试接口技术、ATE参数测量准确度理解和CPU功能测量评价等问题有较为深入和专业的发言,愿与参会专家切磋、交流和讨论。针对集成电路毫微技术发展对失效分析/测试诊断的专业需求和SOC发展对第三方(软)IP核评测的需求,特别邀请专家准备了两个发言,希望引起重视和讨论。

  • 【会议录名称】 第五届中国测试学术会议论文集
  • 【会议名称】第五届中国测试学术会议
  • 【会议时间】2008-05
  • 【会议地点】中国江苏苏州
  • 【分类号】TN407
  • 【主办单位】中国计算机学会容错计算专业委员会、苏州工业园区管理委员会
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