【作者】 王永生； 曹贝； 肖立伊；

【Author】 WANG Yong-sheng, CAO Bei, XIAO Li-yi (Microelectronic Center, Harbin Institute of Technology, Harbin, 150001, CHN)

【机构】 哈尔滨工业大学微电子中心；

【摘要】 本文针对兼容于IEEE 1500标准的测试壳,提出了采用基于BFD(FFD)的混合遗传算法的测试壳优化方案。遗传算法是一种解决NP问题的有效方法,针对测试壳的结构特点, 构建新的混合遗传算法,解决测试壳优化问题。在利用较少的测试端口的情况下,最长测试壳扫描链长度得到普遍缩短;对于ITC’02基准电路d695和p93791电路,最大的缩短量可达2％。更多还原

【Abstract】 The scheme of the wrapper optimization based on hybrid genetic algorithm is presented for IEEE 1500 compliant test wrapper in this paper. The generic algorithm is an effective method to solve NP problem. The new hybrid genetic algorithm is given for the framework of test wrapper. The length of scan chain is shortened under limited test ports at large. The best result achieves 2% using this technique effectively for ITC’02 benchmark d695 and p93791.更多还原