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基于概率分析的扫描测试功耗研究

A probabilistic Study of Scan-based Testing Power Consumption

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【作者】 陈治国徐勇军李晓维

【Author】 Chen Zhiguo , Xu Yongjun, Li Xiaowei ( School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, 610054; Infromation and Network Lab, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100080)

【机构】 电子科技大学物理电子学院中国科学院计算技术研究所信息网络室

【摘要】 本文通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计;在此基础上,依据扫描单元的置1 概率重排扫描链可以有效地降低扫描功耗。实验结果表明,这种方法是有效可行的。

【Abstract】 Test power dissipation is exceedingly high in scan-based environment wherein scan chain transitions during the shift of test data further reflect into significant levels of circuit switching unnecessarily. In this paper, scan chain switching activities is evaluated by analysis which based on test vector and scan cell probability. Reordering scan chain to reduce switching activities is discussed in this paper too. Experimental results are given to prove this analysis methodology is efficient and useful for power analysis.

【基金】 国家863课题(编号2001AA111070);国家自然科学基金重点项目(编号90207002)的资助。
  • 【会议录名称】 第十届全国容错计算学术会议论文集
  • 【会议名称】第十届全国容错计算学术会议
  • 【会议时间】2003-09
  • 【会议地点】中国北京
  • 【分类号】TN407
  • 【主办单位】中国计算机学会容错计算专业委员会
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