节点文献
芯片级系统在线测试技术
Online Testing Techniques for Chip-Level Systems
【Author】 Chun-Xin YUN Jian-Hui JIANG Department of Computer Science and Technology, Tongji University, Shanghai 200092
【机构】 同济大学计算机科学技术系;
【摘要】 在线测试是基本容错技术之一。本文把在线测试技术概括为差错控制码、重复与比较、在线监督等三类,对其发展历史进行了回顾,重点是20世纪90年代以来的成果,包括芯片设计方案、原型及产品。研究结果表明,在线测试技术已经融入了高性能处理机芯片的设计之中。
【Abstract】 Online testing is one of the fundamental fault-tolerant techniques. In this paper, it is traced from three lines: error control codes, replication and comparison, and on-line monitoring. The development history and the achievements in 1990’s including chip design schemes, prototypes and products are emphasized. The existing results show that the online testing techniques are now merged into the design of high performance processors.
【Key words】 Online testing; high performance processor; fault-tolerant computing; VLSI chips;
- 【会议录名称】 第十届全国容错计算学术会议论文集
- 【会议名称】第十届全国容错计算学术会议
- 【会议时间】2003-09
- 【会议地点】中国北京
- 【分类号】TP306;TP331
- 【主办单位】中国计算机学会容错计算专业委员会