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纳米晶体硅量子点场发射冷阴极的研究

Study on Cold Electron Emission Based on Nanocrystalline Silicon Quantum Dots

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【作者】 吴成昌肖夏赵新为张生才

【Author】 Wu Chengchang Xiao Xia Zhao Xinwei Zhang Shengcai Tianjin University,Tianjin,300072 Science University of Tokyo, Tokyo, Japan, 162 - 8601

【机构】 天津大学东京理科大学

【摘要】 在n-Si(4-5Ω·cm)衬底上淀积了400nm厚的纳米晶体硅(nc-Si)量子点薄膜,将其制备成场致发射的冷阴极。介绍了nc-Si量子点冷阴极的制备,场致发射特性的测试,解释了nc-Si量子点冷阴极的工作模型及电子弹道发射的原理。透射电子显微镜(TEM)对样片的结构分析证实样片中的nc-Si量子点具有很好的单晶结构;原子力显微镜(AFM)对样片的表面形貌分析表明,样片具有平滑的表面,有利于提高冷阴极的发射效率。

【Abstract】 400nm -thick nanocrystalline silicon (nc -Si) quantum dots films have been deposited on the n - Si (4-5Ω· cm) substrate, and fabricated as the cold cathode of the field emission. The fabrication process of nc -Si quantum dots cold cathode and the measurement system were described in detail. The transmission electron microscope (TEM) verifies the single crystal structure of the nc -Si quantum dots in the sample. A smooth surface of the sample is observed by atom force microscope (AFM), which is benefit for increasing the emission efficiency of the cold cathode.

【基金】 天津市自然科学基金资助项目(043612311);天津市外专局引智项目(2004074)
  • 【会议录名称】 中国微米、纳米技术第七届学术会年会论文集(一)
  • 【会议名称】中国微米、纳米技术第七届学术会年会
  • 【会议时间】2005-08
  • 【会议地点】中国大连
  • 【分类号】TN383.1
  • 【主办单位】中国机械工程学会
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