节点文献

化学机械抛光中的纳米级薄膜流动

Thin Film Flows at Nano Scale in CMP

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 张朝辉雒建斌雷红

【Author】 Zhang Chaohui1 Luo Jianbin2 Lei Hong3 1. Beijing Jiaotong University, Beijing, 100044 2. State Key Laboratory of Tribology, Tsinghua University, Beijing, 100084 3. Shanghai University, Shanghai, 200436

【机构】 北京交通大学清华大学摩擦学国家重点实验室上海大学

【摘要】 在简述化学机械抛光技术的基础上,提出化学机械抛光过程中,受载的粗糙峰和被抛光的晶片表面之间存在一纳米量级的薄流体膜,形成了纳米级薄膜流动系统。指出对纳米级流动规律进行研究将有助于了解化学机械抛光的作用机理,其中,在极薄的膜厚情况下的温度场分析是一项迫切任务。

【Abstract】 It is noted that there is a thin fluid film between the loaded asperities and the wafer being polished in CMP process, thereby a flow system with nano scale film is formed in. To explore the features in such cases will lay the foundation of mechanism of CMP. One key challenge provided by CMP is the analysis on temperature field with super thin film.

【基金】 国家自然科学基金资助重大项目(50390060);北京交通大学“十五”项目(2004SM041)
  • 【会议录名称】 中国微米、纳米技术第七届学术会年会论文集(二)
  • 【会议名称】中国微米、纳米技术第七届学术会年会
  • 【会议时间】2005-08
  • 【会议地点】中国大连
  • 【分类号】TB383
  • 【主办单位】中国机械工程学会
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络