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植被叶片反射率光谱三种常用测量方法比较分析
Study of three common measurement of leaf spectrum
【Author】 Yu Kai~1 Liu Su-hong~1 Zhao Yong-chao~2 Geng Xiu-rui~2 1.BeiJing Normal University, 2.China Institute of Science of Electronics
【机构】 北京师范大学地理学与遥感科学学院； 中国科学院电子学研究所八室；
【摘要】 本文针对目前比较常用的 ASD 光谱仪测量叶片反射率光谱的三种方法(积分球测量、直接将叶片水平展开测量、多个叶片在地上平铺后测量)进行研究,讨论了三种测量方法的异同。
【Abstract】 Our study contraposing the three main measurement methods,which using the ASD instrument,takes some experiments and discusses the similarities and differences of the different methods.
【关键词】 光谱测量；
叶片反射率；
光谱特征位置；
【Key words】 spectrum measurement； reflectance of leaf； feature positions of leaf spectrum；
【Key words】 spectrum measurement； reflectance of leaf； feature positions of leaf spectrum；
【基金】 自然科学基金(40771150);植被生命周期光谱规律研究
- 【会议录名称】 第十四届全国图象图形学学术会议论文集
- 【会议名称】第十四届全国图象图形学学术会议
- 【会议时间】2008-05
- 【会议地点】中国福建福州
- 【分类号】TP75
- 【主办单位】中国图象图形学学会