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SiO2图像分析法统计颗粒数对粒径影响的研究
【机构】 北京联合大学机电学院； 北京市理化分析测试中心；
【摘要】 采用图像分析法对SiO2颗粒的透射电镜照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响。同时与光子相关法的结果进行时比。实验结果表明:对于呈球形且单分散的颗粒而言,利用图像分析法测量其粒径时选择颗粒数大于100个即可,且统计颗粒数大于2500个时所得结果更接近其真实值。
- 【会议录名称】 第六届全国颗粒测试学术会议论文集
- 【会议名称】第六届全国颗粒测试学术会议
- 【会议时间】2005-04
- 【会议地点】中国江西井冈山
- 【分类号】TH742
- 【主办单位】中国颗粒学会颗粒测试专业委员会