节点文献
离子注入PIN辐射探测器性能测试
【作者】 陈鸿飞； 邹积清； 田大宇； 张太平； 宁宝俊； 张录；
【机构】 北京大学地球与空间科学学院空间物理与应用技术研究所； 北京大学微电子所；
【摘要】 利用先进的微电子、微机械加工技术,我们研制了300μm、450μm、600μm、800μmm和1000μm等五种离子注入型PIN辐射探测器,选择其中300μm、450μm和1000μm三种规格进行漏电流、噪声水平和能谱分辨率等指标的测试,并与ORTEC探测器相比较。结果表明北京大学研制的PIN探测器具有当前国际先进水平。具体来说,在平均25.7℃的温度下,漏电流大约在14nA左右,噪声水平大约为7.4 keV,能谱分辨率大约为16.9 keV。从噪声水平看。我们的样品优于ORTEC探测器,说明还有提高能谱分辨率的余地。
- 【会议录名称】 中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议论文集
- 【会议名称】中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议
- 【会议时间】2004-09
- 【会议地点】中国新疆乌鲁木齐
- 【分类号】TN36
- 【主办单位】中国空间科学学会空间探测专业委员会