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半导体器件空间辐射总剂量效应
【作者】 孙越强； 朱光武； 王世金； 梁金宝； 王晶； 陶鹏； 杜起飞；
【机构】 中国科学院空间科学与应用研究中心；
【摘要】 空间辐射总剂量效应是引起航天器故障最主要的因素之一。本文主要介绍了,半导体器件辐射总剂量效应的机理,影响器件辐射损伤程度的因素,及器件抗辐射总剂量的测试方法。
- 【会议录名称】 中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议论文集
- 【会议名称】中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议
- 【会议时间】2004-09
- 【会议地点】中国新疆乌鲁木齐
- 【分类号】TN303
- 【主办单位】中国空间科学学会空间探测专业委员会