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四极照明光刻成像质量仿真研究

Simulation of Imaging Quality in 193nm lithography using QUASAR Illumination

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【作者】 张飞李艳秋

【Author】 :Fei Zhang, Yanqiu Li1 Institute of Electrical Engineering, Chinese Academy of Science, No.6 Bei-Er-Tiao, Zhong Guan Cun, Beijing 100080, PRC

【机构】 中国科学院电工研究所

【摘要】 本文使用PROLITH、ProDATA、ProLE仿真软件,采用ArF激光器(波长=193nm)光源,针对100nm密集、半密集和孤立三种线条,对四极照明(QUASAR)方式下,各种光学参数配置在空气中成像所能获得焦深进行了仿真分析。根据仿真的结果给出了优化配置参数的范围,比较了三种线条曝光时的光学成像质量。分析了优化配置参数条件下,波前误差对光学焦深、焦点偏移(focusshift)、图像位置误差(imageplacementerror)的影响情况,仿真的结果可以为优化光学参数配置、公差分配提供参考依据。

【Abstract】 The impact of aberration of projection optics on ArF lithography performancefor 100nm node is presented in this paper. The simulation is completed using PROLITH,ProDATA, ProLE software tools. The three kinds of patterns including dense line,semi-dense line and isolated line are taken as exposure patterns. The quasar illumination isemployed in the simulation. This investigation is focus on the optimal opticalparameters setting, depth of focus(DOF), focal shift, image placement error when theaberration is taken into account. The simulation results can provide the detailedinformation to lens design.

【关键词】 ArF光刻仿真PROLITH
【Key words】 ArFlithographysimulationPROLITH.
  • 【会议录名称】 大珩先生九十华诞文集暨中国光学学会2004年学术大会论文集
  • 【会议名称】中国光学学会2004年学术大会
  • 【会议时间】2004
  • 【会议地点】中国杭州
  • 【分类号】TP391.41
  • 【主办单位】中国光学学会
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