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半导体开关RSD开关特性测试平台的设计与研究

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【作者】 李焕炀余岳辉王明彭昭廉

【机构】 华中科技大学电子科学与技术系华中科技大学激光技术国家重点实验室

【摘要】 本文讨论了RSD(Reversely Switching Dinistor)的两种测试平台的设计,并就此两种测试平台进行了优劣性的比较与分析研究,同时也为RSD的应用电路的设计研究提供借鉴。

【关键词】 测试设计分析应用RSD
  • 【会议录名称】 中国电工技术学会电力电子学会第八届学术年会论文集
  • 【会议名称】中国电工技术学会电力电子学会第八届学术年会
  • 【会议时间】2002-11
  • 【会议地点】中国深圳
  • 【分类号】TM564
  • 【主办单位】中国电工技术学会电力电子学会
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