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碳化硅纳米线中的ODD结构的研究

The ODD Structures of SiC Nanowires

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【作者】 郑坤韩晓东张跃飞张泽郝雅娟郭向云

【Author】 Zheng Kun Han Xiaodong Zhang Yuefei Zhang Ze Hao Yajuan Guo Xiangyun ( Institute of Microstructure and Property of Advanced Materials, Beijing University of Technology,Beijing, 100022; State Key Laboratory of Coal Conversion, Institute of Coal Chemistry,Taiyuan,030001)

【机构】 北京工业大学固体微结构研究所中国科学院山西煤化所

【摘要】 本文利用透射电子显微镜(TEM)研究了碳热还原反应生成的立方碳化硅(β-SiC)纳米线,结果表明在碳化硅纳米线中沿[111]生长方向存在大量的一维无序结构(ODD),并与3C结构交替生长。我们通过选区电子衍射图及高分辨照片,对ODD结构进行了分析,发现了两种无序结构,一种为完全无序结构,另一种为小有序体的无序堆垛结构,并分析了这种小有序体的结构。

【Abstract】 SiC nanowires synthesized by carbothermal reduction of silicone method are studied by TEM, the results indicate that there are a lot of One-dimensionally disordered (ODD) structures along the direction of [111]. Two kinds of structure can be concluded when the ODD structure is analyzed by using select area electron diffraction (SAED) and HREM. The one is a totally disordered structure, and the other is ODD structure composed by little ordered structures which stow disordered. Finally, these little ordered structures are analyzed.

【基金】 国家973基金资助项目(2002CB613500)
  • 【会议录名称】 纳米材料与技术应用进展——第四届全国纳米材料会议论文集
  • 【会议名称】第四届全国纳米材料会议
  • 【会议时间】2005-12
  • 【会议地点】中国山东省烟台市
  • 【分类号】TB383.1
  • 【主办单位】中国材料研究学会、山东省科学技术厅
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