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富勒烯的X射线衍射Rietveld全谱拟合及结构分析
【作者】 鲍慧强； 韩培德； 王丽萍； 贾虎生； 刘旭光； 许并社；
【机构】 太原理工大学材料科学与工程学院；
【摘要】 应用Rietveld粉体全谱拟合法对C60分子晶体进行了X射线衍射结构分析,Rietveld方法拟合的最佳结果为:Rwp=9.36%、Rp=6.7%。图1展示了C60实验、拟合的XRD曲线, 底部曲线difference表示两者之间的误差,从图中可以看出,拟合曲线和实验曲线之间吻合的很好,说明实际的C60晶体结构与拟合前搭建的模型结构相符,即C60晶体结构为空间群Fm3m(225)的面心立方结构,晶格常数为:a=1.416nm。主要的精修数据见表1。
- 【会议录名称】 2004年中国材料研讨会论文摘要集
- 【会议名称】2004年中国材料研讨会
- 【会议时间】2004-11
- 【会议地点】中国北京
- 【分类号】TB383
- 【主办单位】中国材料研究学会