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氨化磁控溅射Ga2O3膜在Si(111)衬底上制备GaN纳米棒

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【作者】 杨利庄惠照魏芹芹孙振翠郭兴龙董志华高海永薛成山

【机构】 山东师范大学半导体研究所化学功能材料实验室

【摘要】 通过氨化射频溅射工艺生长的Ga2O3薄膜,在Si(111)衬底上成功地制备出了GaN纳米棒。用场发射扫描电镜(FE-SEM)、X射线衍射(XRD)和透射电镜(TEM)对样品的形貌、组分和结构进行了分析。生成的GaN纳米棒尺寸比较均匀,其直径为80~200nm,长1.5μm左右;纳米棒为六方纤锌矿结构,呈单晶相。这是首次报道,在没有催化剂和空间限制的作用下,由GaO3薄膜和NH3直接反应生长GaN纳米棒。

【关键词】 Ga2O3薄膜GaN纳米棒射频磁控溅射氨化
【基金】 国家自然科学基金(90201025);国家自然科学基金(60071006)。
  • 【会议录名称】 2002年材料科学与工程新进展(上)——2002年中国材料研讨会论文集
  • 【会议名称】2002年中国材料研讨会
  • 【会议时间】2002-10
  • 【会议地点】中国北京
  • 【分类号】TB383
  • 【主办单位】中国材料研究学会
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