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微电子系统的静电放电抗扰度实验方法研究

Study of ESD Immunity Testing Method for Micro-Electronic System

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【作者】 刘尚合徐晓英贺其元

【Author】 LIU Shang-he~1 XU Xiao-ying~2 HE Qi-yuan~1 (1.Electrostatic and Electromagnetic Protection Research Institute,Ordnance Engineering College,Shijiazhuang,Hebei 050003,China;2.Electrostatic Technology Research Institute,Wuhan Science and Technology University,Wuhan,Hubei 430030,China)

【机构】 军械工程学院静电与电磁防护研究所武汉理工大学静电技术研究所

【摘要】 对瑞士Schaffner公司制造的NSG435型ESD 模拟器和日本Noiseken 公司制造的ESS-200AX 型ESD模拟器进行了比较研究.实验发现国际电工委员会IEC61000—4—2标准规定的静电放电抗扰度实验方法及ESD模拟器存在某些问题.针对这些问题并结合许多学者研究的有关结论,研制了一种更符合实际需要的ESD 抗扰度检测实验方法和实验装置,利用新研制的实验装置,按照接触式电放电和空气放电两种方式对电子设备形成的干扰(耦合)电压进行了实验研究.

【Abstract】 The comparison between Schaffner NSG435 ESD simulator made in Swiss and NoisekenESS-200AX ESD simulator made in Japan has been studied.It is found that there are some problemsin the ESD immunity testing method specified in IEC61000-4-2 by International Electro-TechnicalCommission and the simulator used in the test.Aiming at these problems and combining manyscholar’s conclusions,a set of ESD immunity testing method and installment which are more up to theactual mustard have been developed.The induced(coupled)voltages on the electronic equipment by airdischarge and contact discharge are studied with the new developed testing set-up.

【关键词】 静电放电抗扰度实验IEC 标准实验方法
【Key words】 ESDimmunity testIEC standardtest method
【基金】 国家自然科学基金重点资助项目(50237040);国家自然科学基金(60471024)
  • 【会议录名称】 中国物理学会静电专业委员会第十二届学术年会论文集
  • 【会议名称】中国物理学会静电专业委员会第十二届学术年会
  • 【会议时间】2005-10
  • 【会议地点】中国青岛
  • 【分类号】O461.2
  • 【主办单位】中国物理学会静电专业委员会
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