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涂层摩擦磨损机理的超声显微观察
【机构】 清华大学摩擦学国家重点实验室； 清华大学无线电系；
【摘要】 超声显微镜成象技术(SAM)是一种新的无损检测方法,它可提供材料表层和近表层的结构信息。本文探讨了SAM技术在涂层摩擦学中的应用,SAM使用的频率为150MHz．结果表明,SAM可显示涂层近表层的孔隙和裂纹类型缺陷,磨损过程中这些缺陷发生聚合,形成大尺寸缺陷。SAM图象的演变过程揭示了涂层的失效机制
【基金】 本课题获国家自然科学基金资助(编号59475036
- 【会议录名称】 第六届全国摩擦学学术会议论文集（下册）
- 【会议名称】第六届全国摩擦学学术会议
- 【会议时间】1997-05
- 【会议地点】中国陕西西安
- 【分类号】TH117.1
- 【主办单位】中国机械工程学会摩擦学分会、西安交通大学