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TIE相位回复方法在空间电场分布研究中的应用
【机构】 北京清华大学材料科学与工程系电子显微镜实验室； 新竹清华大学工程与系统科学系电镜中心；
【摘要】 <正>透射电子显微镜成像电子束的相位变化能够提供样品及其周围空间电磁场的信息。一些文献已报道过用相位回复方法研究材料的内势、不同材料间的接触势差、A-B 效应以及样品周围空间磁场和电场分布。非干涉性的相位回复方法可以用来研究空间静电场分布问题,其原理是通过记录波传递过程中不同成像平面上的像强度,代入到强度分布传递
- 【会议录名称】 2006年全国电子显微学会议论文集
- 【会议名称】2006年全国电子显微学会议
- 【会议时间】2006-08
- 【会议地点】中国辽宁沈阳
- 【分类号】TN16
- 【主办单位】中国电子显微镜学会