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利用近场光谱研究GaN蓝光二极管的杂质发光
Study on luminescence of GaN impurity by near-field spectroscopy
【作者】 凌勇; 周赫田; 朱星; 黄贵松; 党小忠; 张国义;
【Author】 LING Yong ZHOU He-tian ZHU Xing HUANG Gui-song DANG Xiao-zhong ZHANG Guo-yi (State Key Lab.for Mesoscopic Physics,Dept.of Physics,Peking University,Beijing 100871,China.)
【机构】 北京大学物理系人工微结构与介观物理实验室;
【摘要】 运用近场光谱方法研究了在蓝宝石衬底上用低压 MOCVD 方法外延生长的 GaN 蓝光二极管的杂质发光光谱。研究结果表明近场光谱为研究样品表面微观发光机理中提供了一个有力的手段,它能够给出样品表面微区空间分辨的局域光谱信息。本文给出了研究中所观察到的一些实验现象,并对近场光谱中各发光峰的强度随注入电流(电压)变化关系进行了深入研究。
【Abstract】 By using near-field spectroscopy we have studied the electro-luminescence spectrum of GaN impurity epitaxied on sapphire substrate by low pressure MOCVD.The experimental results indieate that the near-field speetroscopy is a powerul tool in the study of local luminescence on nanometer scale.We have studied the characteristic of the peak intensities in the near-field spectrum vs.the inject current,meanwhile some experimental phenomenon are exhibited in this paper.
【Key words】 scanning near-field optical microscopy(SNOM); GaN; luminescence; spectrum;
- 【会议录名称】 第五届全国STM学术会议论文集
- 【会议名称】第五届全国STM学术会议
- 【会议时间】1998-05
- 【会议地点】中国安徽合肥
- 【分类号】TN312.8
- 【主办单位】中国电子显微镜学会