硅灰石的电子显微研究

【作者】 周景良； 盖秀贞； 朱宜；

【机构】 中国科学院地质研究所； 北京大学电镜室；

【摘要】 <正> 通过x射线衍射研究,人们得知硅灰石存在许多种多型,而所有这些多型都可以用沿（100）面向b方向的b/2层错来进行解释。利用高分辨透射电镜,可以从所得到的晶格象中观察到单个晶胞及其沿（100）面的层错。作者选取大厂、铜陵、四平、大冶、迁西等五个地点所产的硅灰石进行了电镜观察。对于这五种样品都得到了相应于（hko）倒易点阵面的电子衍射图及其晶格象、清楚观察到沿（100）面的b/2层错。相当于d₁₀₀的条纹间距是7.7A。1.大厂硅灰石。多次观察所得的层错都是无序的,电子衍射图中有弥散线（见图1）。它和文献[1]中所述情况有所不同。文献[2]和[3]曾先后提出又否定了双晶的设想。根据二维晶格象中的“波纹型”衬度（图1中箭头处）,本文作者认为很可能有双晶存在。更多还原