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用中子活化方法分析镀膜材料厚度及测量灵敏度研究
【机构】 四川大学物理科学与技术学院；
【摘要】 <正>本文提出了用中子活化分析镀层材料厚度的方法。其分析基本过程是将镀层材料置于热中子场中辐照一定时间,使待分析样品中的一些稳定核素通过中子俘获反应生成放射性核素,该放射性核素具有一定的半衰期,衰变时放出确定能量的γ射线,用γ能谱仪（高纯锗γ谱仪或 NaIγ谱仪）测量活化后放射性核释放的γ射线能谱,由测得的全能峰面积 N0通过下式
- 【会议录名称】 第九届中国核靶技术学术交流会摘要集
- 【会议名称】第九届中国核靶技术学术交流会
- 【会议时间】2007-09
- 【会议地点】中国广西北海
- 【分类号】TL34
- 【主办单位】中国核物理学会