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线阵CCD器件总剂量效应模拟试验研究

Simulation Experiment on Total Ionization Dose Effects of Linear CCD

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【作者】 唐本奇张勇肖志刚王祖军黄绍艳

【Author】 TANG Benqi, ZHANG Yong, XIAO Zhigang, WANG Zujun, HUANG Shaoyan (Northwest Institute of Nuclear Technology, Xian 710024)

【机构】 西北核技术研究所

【摘要】 在自行研制出线阵CCD器件驱动与测试电路的基础上,利用Co-60γ辐射源,选取商用线阵器件,在不同的偏置状态下,开展了CCD总剂量效应的模拟试验,离线测量了辐射累积剂量对器件暗电流、饱和电压和信噪比的影响。初步建立了线阵CCD器件总剂量效应模拟试验系统。

【Abstract】 we carry out the ionization radiation experiment of linear CCDs operated in unbiased, biased, biased and driven mode respectively by Co-60 γ source with our self-designed test system, and offline test the Dark signal and Saturation voltage and SNR varied with total dose for TCD132D, and get some valuable results. On the basis of above work, we set forth a primary experiment approaches to simulate the total dose radiation effects of charge coupled devices.

  • 【会议录名称】 固体核径迹论文集——第八届全国固体核径迹学术会议论文集
  • 【会议名称】第八届全国固体核径迹学术会议
  • 【会议时间】2004-10
  • 【会议地点】中国厦门
  • 【分类号】TN386.5
  • 【主办单位】中国核物理学会
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