10MeV中子引起的²³⁸U，²⁰⁹Bi，Fe和⁹Be的次级中子双微分截面测量

【作者】 祁步嘉； 唐洪庆； 周祖英； 周陈维； 沈冠仁； 柯尊建； 孙振强； 夏海鸿；

【机构】 中国原子能科学研究院；

【摘要】 <正>次级中子双微分截面是核工程设计需要的重要核数据,特别是预定在2025 年建成的第一座聚变实验堆（ITER）,明确提出了10MeV 中子对 Fe,⁹Be,⁵¹V 等一系列核的次级中子双微分截面的要求。目前,在14MeV 附近,因有很好的 T+d 单能中子源,实验测量非常多,在8MeV 以下也有一些测量。但在8—13MeV 之间, 由于缺乏合适的单能中子源,实验数据极少,至今只有 Li,Be,B,C 四个元素被美国的洛斯·阿拉莫斯国家实验室（LANL）用加速氚的方法,通过 H（t,n）反应中子源测量过10MeV 的次级中子双微分截面。但因加速氚对人体的危害及实验的昂贵,LANL 也早就停止了测量。更多还原