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He离子激发Ce、Nd、Sm、Gd和DyL次壳层电离截面
【机构】 中国科学院上海原子核研究所；
【摘要】 <正>在过去十年中,许多研究工作都涉及了 He 离子激发稀土元素原子 L 次壳层电离截面稠量。为了满足进一步研究的需要,在本工作中我们测量了0．5MeV—3．3MeV He 离子激发 Ce,Nd,Sm,Gd 和 Dy L 次壳层电离子截面。实验中探测 X 射线的 Si(Li)探测器与束流成135°,同时测量散射粒子的半导体探测器与束流夹角为180°。两探测器均置于靶室内。实验中使用的是有碳衬底的薄
- 【会议录名称】 第八届全国核物理会议文摘集（下册）
- 【会议名称】第八届全国核物理会议
- 【会议时间】1991-12
- 【会议地点】中国陕西西安
- 【分类号】O571.2
- 【主办单位】中国核物理学会