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硅同质外延层的沟道效应研究

Channeling studies of the crystalline perlection of homoepitaxial silicon crystals.

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【作者】 王明华彭秀峰龙先灌何福庆郭华聪

【Author】 Wang Minhua Peng Xiufeng LONG Xian guan He Fuqing Guo Huachong (Institute of Nucleer Seienee and Technology,Sichuan University)

【机构】 四川大学原子核科学技术研究所

【摘要】 <正>单晶外延生长技术在半导体领域内已得到广泛应用,为掌握高质量外延层的生长条件,必须研究在不同条件下得到的外延层中缺陷沿纵向分布情况。在这方面研究中,离子沟道效应就是一种十分有利的手段。

  • 【会议录名称】 第五次核物理会议资料汇编(上册)
  • 【会议名称】第五次核物理会议
  • 【会议时间】1982-11
  • 【会议地点】中国四川成都
  • 【分类号】O572;O73
  • 【主办单位】中国核物理学会
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