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微米级ZnO薄膜厚度的散射测量与数字计算

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【作者】 温良弼黄艳文谢必正陈素清陈剑瑄李尚柏王能明张大忠

【机构】 四川大学原子核科学技术研究所

【摘要】 <正>ZnO 薄膜具有优良的压电性能,是一种很有前途的声电材料。在声表面波器件中,用 ZnO 薄膜制成的电视中频滤波器,国外已经投入实用。滤波器的主要性能直接与 ZnO 膜的厚度有关。要获得高的机电耦合系数, ZnO 膜的厚度必须选在0.03λ或0.5λ(λ——声表面波波长)。

  • 【会议录名称】 第五次核物理会议资料汇编(上册)
  • 【会议名称】第五次核物理会议
  • 【会议时间】1982-11
  • 【会议地点】中国四川成都
  • 【分类号】O484.5
  • 【主办单位】中国核物理学会
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