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微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究
Scanning parameter measurement and projected image correction for microfocus X-ray imaging system
【作者】 倪建平； 李政； 白宏涛； 刘亚强； 程建平； 高文焕； 康克军；
【Author】 NI Jian-ping, LI Zheng,BAI Hong-tao, LIU Ya-qiang, CHENG Jian-ping,GAO Wen-huan, RANG Ke-jun (Department of Engineering Physics, Tsinghua University, Beijing 100084)
【机构】 清华大学工程物理系；
【摘要】 微焦点X射线成像系统由于被重新安装以及初始化,导致系统参数读数与实际值之间存在偏量, 本文给出测量这些偏量值的基本原理和方法,并通过实验求出偏量值。由于图像增强器与图像获取装置本身固有特点以及非线性获取成像,投影图像存在几何畸变,本文讨论了图像几何畸变校正的基本原理,并给出具体步骤以及校正后的图像。
【Abstract】 Because of the reinstalling of the system, certain dentation will be occured between the inherent characteristics of the image intensifier and the image-acquisition device, and the acquired projected image ia geometrical distorted, which will debase the accuracy of the reconatructed image in three-dimenaional CT. This paper ia to aolve the precise measurement and calculation of FOD, FDD, and the correction of the geometrical distortion of the projected image.
【Key words】 microfocua X-ray imaging system； scanning parameter； geometrical distortion；
- 【会议录名称】 第十届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集
- 【会议名称】第十届全国核电子学与核探测技术学术年会
- 【会议时间】2000-09
- 【会议地点】中国四川成都
- 【分类号】TL81
- 【主办单位】中国电子学会核电子学与核探测技术分会、中国核学会核电子学与核探测技术分会