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硅微条探测器X射线成像研究

X-Ray Imaging Test of Silicon Microstrip Detector

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【作者】 曹卫刚陈伯显李毅强

【Author】 Cao Weigang Chen Boxian Li Yiqiang (Dept. Engineering Physics, Tsinghua University, Beijing,100084)

【机构】 清华大学工程物理系

【摘要】 本文描述了在硅微条探测器动态性能研究基础上,将硅微条探测器用于X射线成像的研究工作。硅微条探测器的条距为200μm。完成了64路读出电路、64路甄别器阵列、64路多通道计数器的研制,实现了成像数据的采集,建立了硅微条探测器成像应用研究的实验装置。在此基础上,得到了一维成像图像,并提出了用一维扫描的方法,在一维硅微条探测器条件下,实现了二维成像的设想,得到了满意的图像结果,这个设想的实现具有重要的实用价值。

【Abstract】 This article introduces the study of X-ray imaging with Silico Microstrip Detector (SMD). 64 channels SMD read-out circuits, 64 channels discriminators and 64 channels multi-counters have been developed,and then an experimental X-ray imaging system is established. We have worked out a proposal and realized twodimensional imaging in one-dimensional SMD with a scan method and have got a good image.We think it is valuable to SMD X-ray imaging.

【基金】 国家教委博士点基金支持
  • 【会议录名称】 第8届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集(一)
  • 【会议名称】第8届全国核电子学与核探测技术学术年会
  • 【会议时间】1996-12
  • 【会议地点】中国广东珠海
  • 【分类号】TL814
  • 【主办单位】中国电子学会核电子学与核探测技术分会、中国核学会核电子学与核探测技术分会
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