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X光机辐射束质的描述及测量

Description and Measurement of Beam Quality from X Ray Unit

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【作者】 王百荣康克军陈伯显

【Author】 Wang Bairong (Institute of Chemical Defence, P.O.Box 1048,Beijing, 102205) Rang Kejun Chen Boxian (State Lab of Particle & Radiation Imaging,Tsinghua University,Beijing, 100084)

【机构】 防化指挥工程学院清华大学粒子技术与辐射成像国家专业实验室

【摘要】 本文介绍了X光机辐射束质的描述及测量方法,并对吸收法和康谱顿谱仪法发在X射线束质测量中的应用进行了重点研究。

【Abstract】 This paper introduces methods of describing and measuring the beam quality from X ray unit.

  • 【会议录名称】 第8届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集(一)
  • 【会议名称】第8届全国核电子学与核探测技术学术年会
  • 【会议时间】1996-12
  • 【会议地点】中国广东珠海
  • 【分类号】TL816.1
  • 【主办单位】中国电子学会核电子学与核探测技术分会、中国核学会核电子学与核探测技术分会
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