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单片FPGA光纤误码测试仪

Error ratio testing instrument based on a single field programmable gate array (FPGA)

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【Author】 HUANG Zhen, YU Rong-jin, WU Chang-qi(School of Information Science and Engineering, Yanshan University, Qinhuangdao Hebei 066004, China)

【机构】燕山大学信息科学与工程学院；

【摘要】随着半导体技术和电子设计自动化(EDA)的迅猛发展,使系统级可编程芯片(SOPC)成为可能。利用单片现场可编程门阵列(FPGA)可构成一个SOPC,实现了低成本、多速率、多接口的误码测试系统。更多还原

【Abstract】 The tremendous development of semiconductor technology and electronic design automation (EDA) made the system on a programmable chip (SOPC) possible. An error ratio testing system featured with low cost, multi-speed grades, multi-interface and a SOPC based on a single field programmable gate array(FPGA) chip were presented.更多还原

【关键词】误码测试；电子设计自动化；系统级可编程芯片；伪随机二进制序列；
【Key words】 error ratio testing； EDA； SOPC； pseudo-random bit sequence(PRBS)；

【会议录名称】 2004全国光学与光电子学学术研讨会、2005全国光学与光电子学学术研讨会、广西光学学会成立20周年年会论文集

【会议名称】2004全国光学与光电子学学术研讨会;2005全国光学与光电子学学术研讨会暨广西光学学会成立20周年年会

【会议时间】2004-08-01;2005-10-15
【会议地点】中国山东烟台;中国桂林
【分类号】TN98

【主办单位】中国兵工学会;中国兵工学会、中国兵工学会光学专业委员会、广西光学学会、《光学技术》杂志社

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