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一种用于半导体激光器温控系统的温度检测

Temperature testing in temperature control system for laser diode

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【作者】 石智伟朱勇成懿阗陈玉稳林桔桦

【Author】 SHI Zhi-wei, ZHU Yong, CHENG Yi-tian, CHEN Yu-wen, LIN Ju-hua(College of infonnation Engineering, Guangdong University of Technology, Guangzhou 510643, China)

【机构】 广东工业大学信息工程学院

【摘要】 分析了在温控中利用传统测温方法测量半导体激光二极管的缺陷。选用了一个新型的温度传感器DS1624.并依据线性插补的数学思想对其进行了误差校正。测温精度可达到0.1℃,分辨率可达到0.03℃。

【Abstract】 The defect of introditional temperature testing for Laser Diode was analyzed. A new temperature sensor——DS1624 was used. The error rectifying was introduced based on linear interpoktion. The system can reach up to a precision of 0. 1℃and a respective of 0.03℃.

【基金】 广东工业大学校青年科学研究基金资助项目(032024)
  • 【会议录名称】 2004全国光学与光电子学学术研讨会、2005全国光学与光电子学学术研讨会、广西光学学会成立20周年年会论文集
  • 【会议名称】2004全国光学与光电子学学术研讨会;2005全国光学与光电子学学术研讨会暨广西光学学会成立20周年年会
  • 【会议时间】2004-08-01;2005-10-15
  • 【会议地点】中国山东烟台;中国桂林
  • 【分类号】TN248.4
  • 【主办单位】中国兵工学会;中国兵工学会、中国兵工学会光学专业委员会、广西光学学会、《光学技术》杂志社
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